xrd是X射線衍射，可以分析相，SEM是掃描電鏡，主要觀察微觀結構，TEM是透射電鏡，主要觀察超限微觀結構,XRD是X射線衍射儀，其原理是在高壓下，陰極發射的電子形成高能電子束，轟擊陽極靶(一般為Cu)，靶內部電子能量增大，被激發,AFM是一種原子力顯微鏡，主要用于觀察表面形貌。{0}1、SEM、TEM、XRD原理及區別xrd是X射線衍射，可以分析相，SEM是掃描電鏡，主要觀察微觀結構，TEM是透射電鏡，主要觀察超限微觀結構。AES指的是能譜，主要分析濃度分布。STM掃描隧道顯微鏡也用于觀察超微結構。AF...